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子元器件老化測試，蒸氣老化試驗箱

型　號

產品時間2024-07-06

所屬分類蒸汽式老化試驗箱

報價

產品描述：湖北高天蒸汽老化試驗箱，蒸汽老化試驗箱適用于子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產業、子零組件金屬等材料進行老化加速壽命試驗。
產品概述

子元器件老化測試，蒸氣老化試驗箱

        湖北高天蒸汽老化試驗箱，蒸汽老化試驗箱適用于子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產業、子零組件金屬等材料進行老化加速壽命試驗。

蒸汽老化試驗箱標準型號：

產品型號：GT-ZQ-34

內部尺寸：50X40X17 CM  （W*H*D）

外部尺寸：60X50X42 CM  （W*H*D）

溫度范圍：Upto97℃

控制器：PID微腦控制

加熱方式：PID+SSR

升溫時間：約45分鐘

計時器：9999分

壓：220V

熱（KW）：2

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